Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych

Redakcja:	Bolesław Niemierko Janina Sygniewicz Wojciech Walczak
Wydawca:	Wydaw. WSH-E (2003)
ISBN:	83-87814-92-X
Autotagi:	druk książki
Źródło opisu:	Biblioteka Narodowa - Katalog Główny

Wypożycz w bibliotece

Dostęp online

Brak zasobów elektronicznych
dla wybranego dzieła.

Kup

Brak ofert.

Recenzje

Brak recenzji - napisz pierwszą.

Nikt jeszcze nie obserwuje nowych recenzji tego dzieła.

Okładki

Kliknij na okładkę żeby zobaczyć powiększenie lub dodać ją na regał.

Zgłoś problem