Radiometryczne metody pomiaru grubości powłok
| Autorzy: | Stefan Sękowski (1925-2014) Ryszard Szepke |
|---|---|
| Wydawca: | Wydawnictwa Naukowo-Techniczne |
| Wydane w seriach: | NT Nowa Technika |
| Autotagi: | druk książki |
| Źródło opisu: | Biblioteka Narodowa - Katalog Główny |
|
|
|
Wypożycz w bibliotece
Kup
Recenzje
