Radiometryczne metody pomiaru grubości powłok
Autorzy: | Stefan Sękowski (1925-2014) Ryszard Szepke |
---|---|
Wydawca: | Wydawnictwa Naukowo-Techniczne |
Wydane w seriach: | NT Nowa Technika |
Autotagi: | druk książki |
Źródło opisu: | Biblioteka Narodowa - Katalog Główny |
|
|
Wypożycz w bibliotece
Kup
Recenzje
Dyskusje