Statystyczne i termiczne problemy niezawodności elementów elektronicznych

Autor:	Roman F. Szeloch
Wydawca:	Oficyna Wydawnicza PW (1997)
ISBN:	83-7085-263-7
Autotagi:	druk książki
Źródło opisu:	Biblioteka Narodowa - Katalog Główny

Wypożycz w bibliotece

Dostęp online

Brak zasobów elektronicznych
dla wybranego dzieła.

Kup

Brak ofert.

Recenzje

Brak recenzji - napisz pierwszą.

Dyskusje

Brak wątków

Nikt jeszcze nie obserwuje nowych recenzji tego dzieła.

Okładki

Kliknij na okładkę żeby zobaczyć powiększenie lub dodać ją na regał.

Zgłoś problem