Badanie własności fizycznych powierzchni półprzewodników przy pomocy zwierciadlanego mikroskopu elektronowego
| Autor: | Edmund Igras |
|---|---|
| Wydawca: | Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego (1968) |
| Autotagi: | druk książki |
| Źródło opisu: | Biblioteka Narodowa - Katalog Główny |
|
|
|
Wypożycz w bibliotece
Kup
Recenzje
