Podstawy metrologii: Proces pomiarowy

Inne tytuły:
Podstawy metrologii Cz. 2,
Autorzy:
Władysław Rudolf Gundlach (1921-2007)
Jan Ciepłucha
Dorota Kozanecka
Wydawcy:
nakł. PŁ (1989)
Wydaw. PŁ (1988)
Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej
Wydane w seriach:
Skrypty dla Szkół Wyższych
Skrypty dla Szkół Wyższych - Politechnika Łódzka
Autotagi:
druk
książki
podręczniki
skrypty
szkoły wyższe
Wypożycz w bibliotece
Dostęp online
Brak zasobów elektronicznych
dla wybranego dzieła.
Dodaj link
Kup
Brak ofert.
Recenzje

Brak recenzji - napisz pierwszą.

Nikt jeszcze nie obserwuje nowych recenzji tego dzieła.
Okładki
Kliknij na okładkę żeby zobaczyć powiększenie lub dodać ją na regał.

Projekt współfinansowany ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego
Dotacje na innowacje - Inwestujemy w Waszą przyszłość
foo