Wzorcowanie aparatury pomiarowej

Autorzy:	Krystyna Kostyrko Janusz Piotrowski (1934-2014)
Wydawca:	Wydawnictwo Naukowe PWN (2012)
ISBN:	978-83-01-17051-6
Autotagi:	druk książki podręczniki publikacje dydaktyczne publikacje naukowe skrypty szkoły wyższe
Źródło opisu:	Miejska Biblioteka Publiczna im. Księcia Ludwika I w Brzegu - Księgozbiór

	W podręczniku przedstawiono: aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar; podstawowe pojęcia metrologii, procedury zapewnienia jedności miar, procedury wzorcowania przyrządów pomiarowych i badania aparatury pomiarowej; zasady tworzenia schematów sprawdzań wzorców i narzędzi pomiarowych; aspekty niepewności wyników pomiarów i procedur wyznaczania niepewności; wstępne opracowanie wyników kalibracji oraz procedury estymacji charakterystyk liniowych i nieliniowych, jedno- i wielowymiarowych przy różnych właściwościach błędów; badanie metod analitycznych oraz badania międzylaboratoryjne procedur wzorcowania; aspekty komputeryzacji procedur kalibracji i obsługi laboratorium; sprawdzanie (walidację) metod badania i wzorcowania; laboratoria akredytowane oraz zagadnienia prawnej kontroli metrologicznej i oceny zgodności; przykład księgi jakości laboratorium spełniającego wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005. Więcej...

Wypożycz w bibliotece

Dostęp online

Brak zasobów elektronicznych
dla wybranego dzieła.

Kup

Brak ofert.

Recenzje

Brak recenzji - napisz pierwszą.

Nikt jeszcze nie obserwuje nowych recenzji tego dzieła.

Okładki

Kliknij na okładkę żeby zobaczyć powiększenie lub dodać ją na regał.

Zgłoś problem